2024年2月6日,國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)給魅杰半導(dǎo)體1篇集成電路布圖設(shè)計(jì)登記證書:《化合物碳化硅缺陷標(biāo)準(zhǔn)片布圖》